電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)：模擬因?yàn)榫€路過(guò)載引起的長(zhǎng)時(shí)供電電壓升高或降低，或者其他大功率負(fù)載電流瞬間抽取的過(guò)大，導(dǎo)致輸入電壓瞬間下降或者供電短時(shí)中斷。
1. 電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)項(xiàng)目：
電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)
2. 電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：
IEC61000-4-11:2004
3. 電壓跌落測(cè)試設(shè)備：
試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器（電壓跌落發(fā)生裝置）
電壓暫降短時(shí)中斷試驗(yàn)優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間

a “X類"由有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行定義。

b “25/30周期"是指“50Hz試驗(yàn)采用25周期"和“60Hz試驗(yàn)采用30周期"。

u 在9kHz~150kHz頻率范圍內(nèi)，對(duì)來(lái)自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場(chǎng)所引起的感應(yīng)騷擾不要求測(cè)量。

u 在150kHz~80kHz頻率范圍內(nèi)，對(duì)來(lái)自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場(chǎng)所引起的感應(yīng)騷擾的抗擾度試驗(yàn)應(yīng)根據(jù)設(shè)備和電纜最終安裝時(shí)所處電磁環(huán)境按下面表格選擇相應(yīng)的試驗(yàn)等級(jí)。

頻率范圍150kHz~80MHz

電壓跌落測(cè)試試驗(yàn)等級(jí)：

? 1類：低電平輻射環(huán)境。無(wú)線電電臺(tái)/電視臺(tái)位于大于1km的距離上的典型電平和低功率發(fā)射接收機(jī)的典型電平。

? 2類：中等電磁輻射環(huán)境。用在設(shè)備鄰近的低功率便攜式發(fā)射接收機(jī)（典型額定值小于1W）。典型的商業(yè)環(huán)境。

? 3類：嚴(yán)酷電磁發(fā)射環(huán)境。用于相對(duì)靠近設(shè)備，但距離小于1m的手提式發(fā)射接收機(jī)（≥2W）。用在靠近設(shè)備的高功率廣播發(fā)射機(jī)和可能靠近工、科、醫(yī)設(shè)備。典型的工業(yè)環(huán)境。

? ×類：×是由協(xié)商或產(chǎn)品規(guī)范和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的開放等級(jí)。

u 對(duì)總尺寸小于0.4m，并且沒有傳導(dǎo)電纜（如電源線、信號(hào)線或地線）的設(shè)備，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不需要進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)。比如采用電池供電的設(shè)備，當(dāng)他與大地或其他任何設(shè)備沒有連接，并且不在充電時(shí)使用，則不需要做此項(xiàng)實(shí)驗(yàn)，但設(shè)備在充電期間也要使用，則必須做此項(xiàng)實(shí)驗(yàn)。

u 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定頻率范圍為150kHz~80MHz，但實(shí)際測(cè)試的頻率范圍可根據(jù)受試設(shè)備的情況分析后確定，當(dāng)受試設(shè)備尺寸比較小時(shí)，試驗(yàn)頻率最大可以擴(kuò)展到230MHz。

電壓跌落測(cè)試試驗(yàn)方法：

輸出電壓為標(biāo)稱值的80﹪時(shí)，以上要求只需在最大持續(xù)時(shí)間為5s期間進(jìn)行試證。
輸出電壓為標(biāo)稱值的70﹪和40﹪時(shí)，以上要求只需在最大持續(xù)時(shí)間為3s期間進(jìn)行試證。
上升和下降時(shí)間，以及過(guò)沖和欠沖，應(yīng)在相位角90o和270o處，從0﹪到100﹪，100﹪到80﹪，100﹪到70﹪，100﹪到40﹪和100﹪到0﹪進(jìn)行切換驗(yàn)證。
相位角的準(zhǔn)確度應(yīng)在0o至360o中以45o為增量的9個(gè)相位角上，從0﹪到100﹪和100﹪到0﹪進(jìn)行切換檢驗(yàn)。且在相位角90o 和180o 處，從100﹪到80﹪何80﹪到100﹪，100﹪到70﹪和70﹪到100﹪，以及100﹪到40﹪和40﹪到100﹪進(jìn)行切換驗(yàn)證。
EUT 應(yīng)按每一種選定的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間組合，順序進(jìn)行三次電壓暫降或中斷試驗(yàn)，最小間斷10s（兩次試驗(yàn)之間的間隔）均應(yīng)在每個(gè)典型的工作模式下進(jìn)行試驗(yàn)。
對(duì)于電壓暫降，電源電壓的變化發(fā)生在電壓過(guò)零處，和由有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)或個(gè)別產(chǎn)品規(guī)范中認(rèn)為需要附加測(cè)試的幾個(gè)角度，每相優(yōu)先選擇45o、90o、135o、180o、225o、270o、和315 o。對(duì)于短時(shí)中斷，由有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)根據(jù)最壞情況來(lái)規(guī)定角度，如果沒有規(guī)定，建議任選一相，在相位角為0o時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
對(duì)于三相系統(tǒng)的短時(shí)中斷試驗(yàn)，三相應(yīng)同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn)。
對(duì)于單相系統(tǒng)的電壓暫降試驗(yàn)，電壓根據(jù)條款要求進(jìn)行試驗(yàn)，這意味著降進(jìn)行一系列的試驗(yàn)。
對(duì)于具有中線的三相系統(tǒng)的電壓暫降試驗(yàn)，根據(jù)條款每次單獨(dú)測(cè)量一個(gè)電壓（相一線，相一相），這意味著進(jìn)行六個(gè)不同系統(tǒng)的試驗(yàn)）。
對(duì)于不具有中線的三相系統(tǒng)的電壓暫降試驗(yàn)，根據(jù)條款5.1，每次單獨(dú)對(duì)相-相電壓進(jìn)行試驗(yàn)，這意味著進(jìn)行三個(gè)不同系列的試驗(yàn))。
注：對(duì)于三相系統(tǒng)，在相線對(duì)相線電壓的暫降過(guò)程中，電壓的變化最好在其他一個(gè)或者兩個(gè)電壓上進(jìn)行。
對(duì)于帶有一根以上電源線的EUT，在每根電源線都應(yīng)的單獨(dú)進(jìn)行試驗(yàn)。
對(duì)EUT進(jìn)行每種規(guī)定的電壓變化試驗(yàn)，應(yīng)在最典型的運(yùn)行方式下進(jìn)行三次試驗(yàn)，其間隔10s。
以上是關(guān)于電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度試驗(yàn)（電壓跌落測(cè)試）項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)、等級(jí)、方法的介紹。

概述：

電壓跌落測(cè)試設(shè)備VIS1700 280Vac / 360Vdc

具有簡(jiǎn)明的操作界面,能夠激勵(lì)電壓暫降、中斷以及電壓變化，這些都是容易發(fā)生在交流和直流電源端口的電源故障。以下是可實(shí)現(xiàn)的操作模式:

1、100%短時(shí)中斷: E U T的供電電壓中斷可以發(fā)生在任意相位，持續(xù)時(shí)間0.1ms – 9980ms。

2、電壓跌落: 快速開關(guān)總是在額定電壓U1和可變電壓U2之間切換（U2<=U1)?？梢栽谌我饨嵌乳_始和結(jié)束，標(biāo)準(zhǔn)定義了40% ,70% ,80%,測(cè)試需要一個(gè)與U1電壓同相位可變電壓U2從設(shè)備的后面板輸入，分段抽頭式變壓器滿足自標(biāo)準(zhǔn)要求如圖1。

圖1

3、電壓變化: 基于可調(diào)的U1電壓（0% ~95%）。參數(shù)電壓下降時(shí)間（0. 1~70s),保持時(shí)間（0. 01~70s）以及電壓恢復(fù)時(shí)間( 0. 1~70s)都可以設(shè)定，這個(gè)測(cè)試不需要額外的供電電源如圖2。

圖2

4、沖擊電流: 額定電流16A的EUT沖擊電流在任意相位角都可以被測(cè)量到 ( 0 – 360°).時(shí)域上分析通過(guò)儀器后面板三個(gè)BNC接頭輸出，可以檢測(cè)到電壓、電流和觸發(fā)脈沖.

蘇州威銳科電子有限公司專注于電磁兼容測(cè)試（EMI+EMS），產(chǎn)品涵蓋靜電放電模擬器、射頻傳導(dǎo)騷擾抗擾度而是系統(tǒng)、共模傳導(dǎo)干擾模擬器、電快速瞬變脈沖群發(fā)生器、雷擊浪涌發(fā)生器、電源故障模擬器等電磁兼容性測(cè)試產(chǎn)品。我們?cè)谌珖?guó)各地已建立了完善的銷售 網(wǎng)絡(luò)和服務(wù)體系,無(wú)論您在哪里都可以享受到方便快捷的優(yōu)質(zhì)服務(wù)。威銳科電子依靠 “敬業(yè)、團(tuán)隊(duì)、創(chuàng)新"的企業(yè)精神，提供更好的服務(wù)，竭誠(chéng)為廣大用戶解決各種電磁兼容測(cè)試問(wèn)題。